本文件規(guī)定了宇航用半導(dǎo)體集成電路單粒子軟錯(cuò)誤時(shí)域測(cè)試的原理、環(huán)境條件、儀器設(shè)備、試驗(yàn)樣品、試驗(yàn)步驟、試驗(yàn)報(bào)告。本文件適用于宇航用半導(dǎo)體集成電路單粒子軟錯(cuò)誤的測(cè)試。 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 43226-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱：宇航用半導(dǎo)體集成電路單粒子軟錯(cuò)誤時(shí)域測(cè)試方法 英文名稱：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-01-01 引用標(biāo)準(zhǔn)：GB 18871-2002 起草人：趙元富、陳雷、王亮、岳素格、鄭宏超、李哲、林建京、李永峰、陳淼、王漢寧 起草單位：北京微電子技術(shù)研究所、中國(guó)航天電子技術(shù)研究院 歸口單位：全國(guó)宇航技術(shù)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 425)