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GB/T 43063-2023 集成電路 CMOS圖像傳感器測(cè)試方法
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 43063-2023 集成電路 CMOS圖像傳感器測(cè)試方法
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-10-18
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本文件描述了具有線性光電響應(yīng)特性的線陣、面陣和時(shí)間延遲積分(TDI)CMOS圖像傳感器參數(shù)及其測(cè)試方法。 本文件適用于具有線性光電響應(yīng)特性的線陣、面陣和TDI器件參數(shù)測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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