BS EN 60749-4-2017 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:濕熱,穩(wěn)態(tài),高加速應(yīng)力試驗(HAST) 部分替代BS EN 60749:1999 Semiconductor Devices. Mechanical And Climatic Test Methods. Damp Heat,Steady State,Highly Accelerated Stress Test (Hast)
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- 更新時間:2023-08-29
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