本標準規(guī)定了半導體集成電路第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器（DDR3SDRAM）功能驗證和電參數(shù)測試的方法。
本標準適用于半導體集成電路領域中第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器（DDR3SDRAM)功能驗證和電參數(shù)測試。GB/T 36474-2018 　　　　半導體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機 存 儲 器 （ DDR3 SDRAM ） 測 試 方 法 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 Semiconductor integrated circuit- Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　memory (DDR3 SDRAM) 2018-06-07發(fā) 布 2019-01-01實 施 　 　 　 　 　 　 　 國 家 市 場 監(jiān) 督 管 理 總 局 磋 冬 活 ， f？ ？ ？ r。 ＼吊酮藕戳甑巔薈發(fā)布 代 器 躐 ？ 翳 刮 涂 層 查 亮 偽 ／ GB/T 36474-2018 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？