首頁 > 標(biāo)準(zhǔn)下載>GB/T 13166-2018 電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn) Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument免費(fèi)下載
GB/T 13166-2018 電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn) Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 13166-2018
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-07-15
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測量儀器(以下簡稱儀器)新產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)進(jìn)行的設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器。GB/T 13166-2018
代 替GB/T 13166-1991
電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)
Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
2018-06-07發(fā) 布 2019-01-01實(shí) 施
r’“’\國家市場監(jiān)督管理總局給淆 ;
\纛鬻 , 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會~
GB/T 13166-2018
刖 呂
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草 。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13166-1991《 電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn) 》 。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 13166-1991相比 , 除編輯性修改外主要技術(shù)變化如下:
— —刪除了試驗(yàn)?zāi)康?( 見1991年版的第2章 ) ;
— — 增 加 了 規(guī) 范 性 引 用 文 件 ( 見 第2章 ) ;
— —刪除了試驗(yàn)要求 ( 見1991年版的第3章 )
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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