本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測量儀器（以下簡稱儀器）新產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)進(jìn)行的設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器。GB/T 13166-2018 　 代 替GB/T 13166-1991 電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn) Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument 2018-06-07發(fā) 布 2019-01-01實(shí) 施 r’“’＼國家市場監(jiān)督管理總局給淆 ； ＼纛鬻 ， 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會～ GB/T 13166-2018 刖 呂 　　本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草 。 　　本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13166-1991《 電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn) 》 。 　　本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 13166-1991相比 ， 除編輯性修改外主要技術(shù)變化如下： 　　 — —刪除了試驗(yàn)?zāi)康?（ 見1991年版的第2章 ） ； 　 　 — — 增 加 了 規(guī) 范 性 引 用 文 件 （ 見 第2章 ） ； 　　 — —刪除了試驗(yàn)要求 （ 見1991年版的第3章 ）