本標準規(guī)定了雙極、MOS、結型場效應半導體集成電路模擬開關（以下稱為器件）參數測試方法。
本標準適用于半導體集成電路模擬開關，也適用于多路轉換器參數的測試。GB/T 14028-2018 　代替GB/T 14028-1992 　半導體集成電路 模擬開關測試方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of analogue switch 2018-03-15發(fā) 布 2018-08-01實 施 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 嵯 ～ ， 。 嚴 氣 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會 ～ p 德 懿 、李 GB/T 14028-2018 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 土 1范 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？