GB/T 5095的本部分規(guī)定了兩種試驗(yàn)方法，通過測(cè)量傳輸線中連接器在時(shí)域內(nèi)的反射，來評(píng)定連 接器的性能。在這些方法中，受試連接器被視為傳輸線中具有受控特性阻抗的躍變點(diǎn)。
試驗(yàn)方法A采用精密同軸電纜和半硬同軸電纜與受試連接器和試驗(yàn)設(shè)備連接。該試驗(yàn)方法適用 于多種形狀的連接器或電纜組件。
試驗(yàn)方法B采用精密試驗(yàn)板、精密同軸電纜和半硬同軸電纜與受試連接器和試驗(yàn)設(shè)備連接。該試 驗(yàn)方法適用于印制板連接器。 5095.2304-2021/IEC 60512-23-4:2001 　　電子設(shè)備用機(jī)電元件 　基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第23-4部分：屏蔽和濾波試驗(yàn) 試驗(yàn)23d：時(shí)域內(nèi)傳輸線的反射 Electromechanical components for electronic equipment- 　 　 Basic testing procedures and measuring methods- 　 　 　 　 Part 23-4: Screening and filtering tests- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain 　 (IEC 60512-23-4: 2001, Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 23-4 : Screening and filtering tests- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain, IDT)