CNS 14676-4-2019電磁相容-測試與量測技術(shù)-第4部:電性快速暫態(tài)/叢訊的抗擾度測試電磁相容-測試與量測技術(shù)-第4部:電性快速暫態(tài)/叢訊的抗擾度測試Electromagnetic compatibility(EMC) - Testing and measurement techniques - Part 4: Electrical fast transient/burst immunity test
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):CNS 14676-4-2019
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-04-17
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)涉及電氣和電子設(shè)備對(duì)重復(fù)發(fā)生之電性快速暫態(tài)的抗擾度、并規(guī)定電性快速暫態(tài)/叢訊相關(guān)的抗擾度要求以及測試程序。此外,亦定義了測試位準(zhǔn)的范圍和建立測試程序。 本標(biāo)準(zhǔn)的目的是建立一個(gè)共通且可再現(xiàn)的準(zhǔn)則,以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在電源、信號(hào)、控制和接地埠遭受電性快速暫態(tài)/叢訊時(shí)的抗擾度。本標(biāo)準(zhǔn)所述的測試方法,介紹一種一致的方法,以評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)定義的電磁環(huán)境現(xiàn)象的抗擾度。 本標(biāo)準(zhǔn)定義: - 測試電壓波形 - 測試位準(zhǔn)的范圍 - 測試設(shè)備 - 測試設(shè)備的校正和確證程序 - 測試設(shè)置 - 測試程序 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在實(shí)驗(yàn)室和在現(xiàn)場測試的規(guī)格。
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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