本文件代替 SH/T 0339一1992《NaY分子篩晶胞大小測定法》
本文件描述了用X射線衍射法測定八面沸石分子篩晶胞參數(shù)的方法。
注:八面沸石包括合成的Y型、x型以及改性分子篩，如不同陽離子交換型、脫 鋁 、脫 陽 離子和超穩(wěn)Y等類型。
本文件適用于不同制備工藝的八面沸石分子篩樣品，以及含有這些分子篩的催化劑和吸附劑。 樣品中分子篩含量可以低至5%，例如裂化催化劑。
本文件所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:
1992年首次發(fā)布為SH/T 0339-1992;
本次為第一次修訂。