GB/T 40007-2021納米技術(shù) 納米材料電阻率的接觸式測(cè)量方法通則Nanotechnology—Contacting methods for measuring the resistivity of nanomaterials—General rules

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 40007-2021
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2022-10-24
下載次數(shù)：次

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米材料電阻率的接觸式測(cè)量方法,包括測(cè)量原理、儀器設(shè)備、測(cè)量條件、測(cè)量步驟、影響因素等。本標(biāo)準(zhǔn)中靜態(tài)四探針?lè)?A法)適用于納米薄膜、納米漿料和納米粉體的電阻率測(cè)量;動(dòng)態(tài)四探針?lè)?B法)、動(dòng)態(tài)四線兩電極法(C法)適用于納米粉體電阻率的測(cè)量。

標(biāo)準(zhǔn)截圖

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