GB/T 41074-2021微束分析用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 41074-2021
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2022-10-25
下載次數(shù)：次

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針(EPMA)或掃描電鏡(SEM)上的能譜儀(EDS)或波譜儀(WDS)分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法。根據(jù)分析目的和顆粒尺寸,對(duì)粉末顆粒試樣的制備方法進(jìn)行了分類(lèi)。本文件適用于粒徑范圍在100nm~100μm的無(wú)機(jī)物顆粒。本文件不適用于一些特殊應(yīng)用,如法醫(yī)分析或痕量分析。

標(biāo)準(zhǔn)截圖

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