GB/T 5170.14-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法.振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products—Electrodynamic vibrating type machines for vibration(sinusoidal)test
- 標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別:[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 5170.14-2009
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2022-11-13
- 下載次數(shù):次
GB/T5170分為如下部分:---GB/T5170.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則---GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.13 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.14 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.15 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)---GB/T5170.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.21 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(隨機(jī))試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)本部分是GB/T5170的第14部分。本部分代替GB/T5170.14-1985《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。本部分與GB/T5170.14-1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。---增加了范圍一章。---增加了規(guī)范性引用文件一章。---增加了術(shù)語(yǔ)和定義一章。---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了檢驗(yàn)用儀器的測(cè)量結(jié)果擴(kuò)展不確定度(d=2)的要求。---增加了檢驗(yàn)條件一章。---在一般規(guī)定一章,要求檢驗(yàn)用負(fù)載表面光潔度不低于7 級(jí)改為表面粗糙度Ra優(yōu)于6.4μm;將第3條移至范圍一章。---在檢驗(yàn)方法一章,對(duì)圖1進(jìn)行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于最大動(dòng)態(tài)力的檢驗(yàn),運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量改用動(dòng)圈質(zhì)量,并刪除了對(duì)應(yīng)的附錄運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量的測(cè)量方法;增加了8.3.4 臺(tái)面一階共振頻率的檢驗(yàn)和圖2;加速度單位由犵改為m/s2;加速度波形失真度的檢驗(yàn)改為臺(tái)面加速度諧波失真度的檢驗(yàn);對(duì)臺(tái)面加速度幅值均勻度的檢驗(yàn)1條進(jìn)行了修改;本底噪聲加速度的檢驗(yàn)改為試驗(yàn)系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗(yàn);修改了8.12 掃頻速率誤差的檢驗(yàn)。---增加了數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果一章。---增加了檢驗(yàn)周期一章。---附錄A 改為資料性附錄,并對(duì)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇作出了修改。---附錄B改為資料性附錄,并對(duì)基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.14-1985。
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