GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分:-第1部分:一般特性測試-第2部分:磁條卡-第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備-第4部分:無觸點集成電路卡-第5部分:光記憶卡-第6部分:接近式卡-第7部分:鄰近式卡本部分為GB/T17554的第I部分,修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373-1:1998《識別卡測試方法第1部分:一般特性測試》(英文版)。本部分與ISO/IEC10373-1:1998相比,存在如下少量技術(shù)性差異:-根據(jù)新版識別卡物理特性標(biāo)準(zhǔn),本部分增加了5.16抗熱度測試方法。本部分與GB/T17554-1998相比主要變化如下:a)增加了5.16抗熱度測試方法;6)刪除了第6章帶觸點的集成電路卡。本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本部分起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本部分主要起草人:馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩本部分從實施之日起,同時替代GB/T17554-1998((識別卡測試方法》。